《数字集成电路测试——理论、方法与实践》

李华伟 郑武东 温晓青 赖李洋 叶靖 李晓维  编著

购买链接：https://item.jd.com/14677784.html

 

出版时间：2024年6月

 

ISBN编码：9787302662037

 

内容简介：

 

     《数字集成电路测试——理论、方法与实践》全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。

 

       针对每一种数字集成电路测试技术，本书一方面用示例讲述其技术原理，另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程（EDA工具应用脚本及其说明可在配套资源中下载），并在每章后附有习题。通过本书，读者一方面可以学到基本的测试理论和相关技术；另一方面，还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。

 

     《数字集成电路测试——理论、方法与实践》适合作为高等院校集成电路、计算机科学与技术、电子科学与技术等相关业高年级本科生、研究生教材，也可供集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参考。

 

 

 

2024年4月

 

 

 

 

6.3.2  广播模式法

 

6.3.3  线性方程法

 

6.3.4  测试激励压缩方法对比

 

6.4  测试响应压缩方法

 

6.4.1  不含X的响应压缩

 

6.4.2  基于扫描链屏蔽的响应压缩

 

6.4.3  基于X耐受性的响应压缩

 

6.4.4  基于纠错码的响应压缩

 

6.4.5  测试响应压缩方法的对比

 

6.5  设计实例

 

6.6  本章小结

 

6.7 习题

 

参考文献

 

第7章  存储器自测试与自修复

 

7.1  存储器基础

 

7.2  存储器的故障模型

 

7.3  存储器测试算法

 

7.3.1  March算法

 

7.3.2  其他常用的存储器测试算法

 

7.4  存储器内建自测试(MBIST)

 

7.5  存储器内建自修复(MBISR)

 

7.6  对用户透明的存储器在线测试

 

7.7  MBIST设计实例

 

7.8  本章小结

 

7.9  习题

 

参考文献

 

第8章  系统测试和SoC测试

 

8.1  系统测试

 

8.1.1  系统功能测试

 

8.1.2  系统诊断测试

 

8.1.3  ICT技术

 

8.2  SoC测试

 

8.2.1  从板上系统到片上系统

 

8.2.2  SoC测试的主要挑战

 

8.2.3  测试访问机制

 

8.2.4  核测试环

 

8.2.5  层次化ATPG

 

8.2.6  测试化

 

8.3  针对系统测试和SoC测试的主要协议简介

 

8.3.1  IEEE 1149.1标准

 

8.3.2  IEEE 1500标准

 

8.3.3  IEEE 1687标准

 

8.3.4  基于数据的扫描测试网络 

 

8.4  基于AI芯片的SoC测试案例分析

 

8.4.1  面向深度学的定制AI芯片

 

8.4.2  AI芯片测试策略

 

8.5  本章小结

 

8.6  习题

 

参考文献

 

第9章  逻辑诊断与良率分析

 

9.1  简介

 

9.2  评估指标

 

9.3  扫描链故障诊断

 

9.3.1  扫描链可诊断性设计方法

 

9.3.2  扫描链自动诊断向量生成方法

 

9.3.3  扫描链失效芯片诊断方法

 

9.4  组合逻辑故障诊断

 

9.4.1  组合逻辑可诊断性设计方法

 

9.4.2  组合逻辑自动诊断向量生成方法

 

9.4.3  组合逻辑失效芯片诊断方法

 

9.5  良率学

 

9.6  设计实例

 

9.7  本章小结

 

9.8  习题

 

参考文献

 

第10章  汽车电子测试

 

10.1  汽车电子简介

 

10.1.1  发展概况和基本要求

 

10.1.2  主要挑战

 

10.1.3  可测试性设计技术应用

 

10.2  汽车电子的功能验证

 

10.2.1  基本概念

 

10.2.2  ISO 26262简介

 

10.3  汽车电子的系统实时测试

 

10.3.1  基本概念

 

10.3.2  任务模式控制器

 

10.4  本章小结

 

10.5  习题

 

参考文献

 

第11章  数字电路测试技术展望

 

11.1  小时延缺陷测试

 

11.2  三维芯片测试

 

11.3  芯片生命周期管理

 

11.4  机器学在测试中的应用

 

11.5  本章小结

 

参考文献

本书配套资源：

即将更新资源：

- 更多开源代码

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图书目录：

 

第1章  数字集成电路测试技术导论

 

1.1  集成电路芯片开发过程中的测试问题

 

1.1.1  大规模集成电路芯片的开发过程

 

1.1.2  设计验证

 

1.1.3  芯片测试

 

1.2  测试技术基础

 

1.2.1  故障模型

 

1.2.2  测试生成简介

 

1.2.3  可测试性设计简介

 

1.3  测试技术与EDA

 

1.4  本章小结

 

1.5  习题

 

参考文献

 

第2章  故障模拟

 

2.1  简介

 

2.1.1  逻辑模拟在测试中的作用

 

2.1.2  故障模拟在测试中的作用

 

2.2  模拟的基本概念

 

2.2.1  逻辑符号

 

2.2.2  缺陷与故障模型

 

2.3  逻辑模拟的算法

 

2.3.1  逻辑模拟的基本算法

 

2.3.2  逻辑模拟的算法化

 

2.4  故障模拟的算法

 

2.4.1  故障模拟的基本算法

 

2.4.2  故障模拟的算法化

 

2.5  本章小结

 

2.6  习题

 

参考文献

 

第3章  测试生成

 

3.1  基本概念

 

3.2  测试生成的分类

 

3.2.1  非面向故障的测试生成

 

3.2.2  面向故障的测试生成

 

3.3  通路敏化法

 

3.3.1  基本原理

 

3.3.2  PODEM

 

3.4  测试简

 

3.5  时延故障的测试生成

 

3.6  实例介绍

 

3.7  本章小结

 

3.8  习题

 

参考文献

 

第4章  可测试性设计

 

4.1  可测试性设计的重要性

 

4.2  可测试性分析

 

4.3  用可测试性设计

 

4.3.1  测试点入

 

4.3.2  影响电路可测试性的设计结构

 

4.4  扫描设计

 

4.4.1  扫描单元设计

 

4.4.2  扫描设计规则

 

4.4.3  扫描设计流程

 

4.4.4  基于扫描的测试过程和代

 

4.4.5  基于扫描的时延测试

 

4.5  片上时钟控制器

 

4.6  可测试性设计实例

 

4.7  本章小结

 

4.8  习题

 

参考文献

 

第5章  逻辑内建自测试

 

5.1  基本结构

 

5.2  BIST对象电路

 

5.2.1  未确定值屏蔽

 

5.2.2  测试点入

 

5.2.3  ReTiming

 

5.3  测试向量生成

 

5.4  测试响应分析

 

5.4.1  串行征分析

 

5.4.2  并行征分析

 

5.5  测试时序控制

 

5.5.1  低速测试

 

5.5.2  实速测试

 

5.6  实例介绍

 

5.7  本章小结

 

5.8  习题

 

参考文献

 

第6章  测试压缩

 

6.1  测试压缩的重要性

 

6.1.1  测试仪和测试数据带宽

 

6.1.2  测试数据炸的挑战和应对策略

 

6.2  测试压缩模型

 

6.2.1  基本工作原理

 

6.2.2  测试激励压缩

 

6.2.3  测试响应压缩

 

6.3  测试激励压缩方法

 

6.3.1  信息编码法

专家推荐

 

刘 明 中国科学院院士，复旦大学芯片与系统前沿技术研究院院长，IEEE Fellow
       质量是产品立足的基石，测试是质量控制的重要技术手段。为保障集成电路产品的质量，在芯片设计阶段就需要设计片上测试电路和准备好充分有效的测试数据。《数字集成电路测试-一理论方法与实践》一书由长期从事数字电路测试科研与教学工作的教授，以及西门子EDA 公司的首席科学家编写完成。该书全面系统地阐述了数字电路测试的基础硬件知识和软件知识，并结合三维芯片、汽车电子等技术发展介绍了测试标准和测试方法的演进。全书内容系统全面，可作为高等院校集成电路测试方向的课程教材，也可作为从事芯片设计与测试开发的技术人员的参考用书。

郑光廷 香港科技大学副校长，讲座教授，IEEEFellow
     《数字集成电路测试-一理论、方法与实践》的各位作者均为数字电路测试领域的全球领先研究人员。本书不仅深入介绍了数字电路测试技术背后的思想和基本原理，而且还介绍了实现这些技术的 EDA 工具，并附有示例设计，以及帮助读者了解基于商业 EDA 工具的理论和实践内容的习题。值得称赞的是，作者在将理论和实践整合成-本连贯的、易于阅读的书方面做了出色的工作，对数字电路测试方面涉及的众多基础技术进行了深入的讨论。我坚信，本书所编撰的材料不仅对学生、研究人员和从业人员具有很高的价值，而且对培养人才以支持行业的发展也会产生重要而长远的影响。

 

汪 玉 清华大学教授，电子工程系系主任，IEEEFellow
       为了确保超大规模集成电路芯片的质量，可测试性设计已成为数字芯片设计流程中不可或缺的关键环节。《数字集成电路测试--理论、方法与实践》一书涵盖了可测试性设计、测试生成、故障诊断、 SoC 测试的基础理论和关键技术，并结合EDA 工具的使用梳理了上述技术的 EDA 实践脚本。本书适用于高校集成电路学院研究生和高年级本科生学习集成电路测试技术，同时为芯片设计工程师提供了普及测试技术的入门读物和可测试性设计工程实践的参考书。

杨 军 东南大学首席教授，国家集成电路设计自动化技术创新中心执行主任
       拜读了李华伟老师及其合作者的新书，绝对是数字电路测试领域的精华之作，内容丰富，涵盖可测性设计、测试向量生成等;深入浅出，从测试基础知识到实践运用。更令人高兴的是，书未附有丰富习题， 可帮助读者巩固所学知识。该书不仅适合于高等院校的专业学生，也是集成电路设计与测试行业从业人员的必备工具书。如果你对数字电路测试技术充满好奇，那这本书是你的不二选择。

开源代码：

第2章：故障模拟

https://www.gitlink.org.cn/opendacs/ictest/tree/master/FaultSim

第3章：测试生成

https://atomgit.com/opendacs/oCASatpg

第4章：可测试性设计

https://atomgit.com/opendacs/oCASscan

第8章：系统测试和SoC测试

https://atomgit.com/opendacs/oCASjtag