中科鉴芯CTO李华伟老师应邀开展工信部芯动力人才计划®国际名家讲堂《数字芯片测试与可测试性设计》授课

7月4日,处理器芯片全国重点实验室副主任、中科鉴芯CTO李华伟老师，应工信部人才交流中心芯动力人才计划®邀请，于国家集成电路设计深圳产业化基地进行为期两天的《数字芯片测试与可测试性设计》专题面授。

芯动力人才计划®第132期国际名家讲堂《数字芯片测试与可测试性设计》是2024年首场在深圳市开展的高级技术人才培训项目，李华伟老师从基础性概念到技术性指导，深入浅出，并结合实操培训，依托国产DFT工具，介绍测试综合EDA流程，带领学员完成给定案例的可测试性设计和测试生成，让学员们更直观地对EDA建立起系统性的知识架构。

处理器芯片全国重点实验室副主任、中科鉴芯CTO李华伟老师授课现场

 实训现场

酷暑已至，学员们的学习热情也随着课程的深入渐趋高涨。

交流现场

此次授课，为集成电路行业人才供了宝贵的交流整合与学习机会。山高水长，期待与从业者们共同续写更多篇章。